“Основи фізики наносистем”, лекція 15.09.2020

Методи характеризації наносистем: електронна мікроскопія (ПЕМ, РЕМ), скануючи зондова мікроскопія (тунельна, атомно-силова, магніто-силова, оптична ближнього поля).