Подготовка двухслойных ламелл для FIB/SEM: подготовка сетки и стратегии бокового крепления.

Привет, любители электронной микроскопии! Недавно я снова начал устанавливать ламеллы сбоку от стоек, так как это имеет множество преимуществ по сравнению с установкой посередине стоек (то есть, в выемке). В этом видео я покажу вам уникальный подход, который я использую: я применяю высокие токи PFIB для удаления примерно половины толщины стойки, а затем сглаживаю боковую поверхность стойки перед установкой ламеллы. По сравнению с простой установкой ламеллы заподлицо с передней поверхностью сетки, этот модифицированный подход обеспечивает более удобную последующую работу с сеткой с меньшим риском потери ламеллы, а также позволяет собирать данные EDS во время S/TEM-анализа с почти максимальной эффективностью. Следите за обновлениями, чтобы узнать, как я это делаю… Спасибо за вашу поддержку, мои дорогие любители электронной микроскопии, ведь мы приближаемся к отметке в 6000 подписчиков! Пожалуйста, ставьте лайки, подписывайтесь, делитесь этим видео и оставляйте любые вопросы или комментарии, и я постараюсь ответить как можно скорее. Запросы на темы для видео всегда приветствуются и ценятся; мне нравится снимать эти видео, и я хотел бы делать это чаще, но из-за загруженности на работе это сложно; я отвечаю за три S/TEM-системы, три системы с двойным FIB/SEM (новая недавно получила одобрение) и половину SEM-системы, и это отнимает у меня очень много времени! Свяжитесь со мной в LinkedIn: https://www.linkedin.com/in/nicholas-rudawski-30414528/ Место моей работы: https://nrf.aux.eng.ufl.edu/ Напишите мне напрямую: ngr@ufl.edu