Нахождение эксцентриситета, координат вершин и фокусов, длины латус-ректума и уравнения...3просмотра20 дней назад
Методика проведения испытаний SiC-диодов и MOSFET-транзисторов в условиях воздействия тяжелых ионов3просмотра20 дней назад
Будущее аддитивного производства в аэрокосмической отрасли | Хелен Локетт | TEDxOpenUniversity4просмотра20 дней назад
